光学・精密測定機器ガイド2017
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27位置・座標長さ画像測定機 株式会社 ニコン光干渉顕微鏡システム BW-S500 / BW-D500 シリーズ顕微鏡観察を行いながら、任意の場所の表面高さ画像を取得することができる表面形状計測システムです。ニコン独自の技術により、半導体ウェハ・ガラスなどの超平滑面から、セラミックス・ゴムなどの粗面まで、単一の測定モードで高精度に計測することができます。アルゴリズム上の高さ分解能は0.001nm、環境振動下の実効高さ分解能でも0.015nmを達成。マテリアルサイエンス分野の精密加工技術開発および高機能材料開発などをサポートします。<主な仕様>理論高さ分解能:1pm(0.001nm)水平分解能:最小0.49㎛実効高さ分解能:15pm(0.015nm)*水平方向測定範囲:最大4448x4448㎛段差測定再現性:< 0.1% 1σ(電動XYステージにより拡張可)        (5㎛段差標準測定時)*垂直方向測定範囲 :90㎛(電動Zステージにより拡張可)*環境振動基準VC-C 相当の環境に設置し、アクティブ除振台にて除振した場合【仕様】ストローク X軸 250㎜      Y軸 150㎜      Z軸 100㎜最大積載量    25㎏照明       透過、同軸落斜、         多色4方向リング倍率       x0.8~x25~主なオプション~グリッドフォーカスレーザ式検出センサ連続画像取得・測定機能CiCVIEW/QVI社製 光学式全自動測定システム Pinnacle 250(ピナクル 250)非接触光学測定の老舗ブランド「QVI社」傘下の「VIEW MICRO-METROLOGY社」製のリニアモーター駆動2.5次元全自動測定システムです。連続画像取得プログラムによる驚異の高速処理(必見!!)を会場にて実演展示致します。●新機能「連続画像取得・測定機能CiC」ステージを停止させずに、連続的に画像を取得し高速測定を行うことができる機能を搭載しています。メタルマスク、プリント基板、リードフレームなど電子部品の測定に最適です。●高速・高精度測定のための測定ステージリニアモーター(X/Y軸)の採用により、バックラッシュ等の発生しない高速(最高400mm/sec)にして高精度なステージ移動を実現しました。 YKT 株式会社デジタル画像測定機 ZEISS O-SELECTO-SELECTは卓上型のワンボタン式デジタル画像測定機です。測定台にワークを置いてボタンを押すだけで課題を測定・評価し、測定結果をレポート化します。初心者の方にとって使い勝手の良い仕様となっていますが、プロフェッショナルな方の拘りにもお応えできる機能を豊富にご用意しております。ISOに準じた精度保証を行うことも可能です。O-SELECT測定精度1)4.5 + L/100 μm繰り返し再現性1)0.9 μm測定範囲X:114 mm Y:91.5 mm照明の種類透過照明、落射照明、同軸照明(オプション)装置寸法(本体)402mm x 510mm x 727 mm1) ISO 10360-7に準ずる カールツァイス 株式会社デジタル画像測定機 ZEISS O-SELECT(オーセレクト)“ボタンひとつ”で測定を実行でき、距離や角度、直径・半径等を短時間で評価可能。“ワークを簡単に測りたい”、“誰が測定しても正しい測定結果を得たい”といったお客さまの要望にお応えすることができるデジタル画像測定機。■フォーカス、照明設定もすべてが自動オペレータによる測定の不確かさとなる要因を完全に排除■テレセントリック光学系を搭載広い視野にもかかわらず歪みの少ない徹底した測定画質を追求光学系と高解像度・低ノイズセンサを組み合わせることにより、コントラストの高いクリアな画像取得が可能■ZEISS O-SELECTソフトウェアソフトウェアが操作をナビゲートし、オペレータの負担を軽減 株式会社 東京精密

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