光学・精密測定機器ガイド2017
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社  名製品名・型式掲載頁社  名製品名・型式掲載頁2光学・精密測定機器ガイド    目  次〈長 さ〉1.寸法・距離a. 測定顕微鏡ニコン測定顕微鏡 MM-200/MM-400/MM-800シリーズ10ミツトヨ測定顕微鏡 MF/MF-Uシリーズ(Z軸モータドライブ)10オリンパス測定顕微鏡 STM710日本光器製作所簡易式測定顕微鏡 2XY10日本光器製作所軸用形状測定顕微鏡 5XJ11日本光器製作所簡易式測定顕微鏡 2XZ11日本光器製作所カセトメーター NCZ-150D11b. 段差・厚さ測定機ミツトヨライトマチック VL-50-B/50S-B11ポリテックジャパンTMS-500 表面形状測定システム12c. 顕微干渉計ブルカー・エイエックスエスリアルカラー対応白色光干渉型顕微鏡 Contour Eliteシリーズ13パール光学工業CGH(Computer Generated Hologram)13d. 膜厚計オプトサイエンス非破壊・非接触コーティング / 膜厚測定 enovasense13e. 光走査外寸測定機オリンパス3D測定レーザー顕微鏡 LEXT OLS410014オリンパスナノサーチ顕微鏡 LEXT OLS450014f. レーザー干渉測長機ロックゲート高精度レーザー干渉変位計 FPS3010及びIDS301014レニショーXM-60 マルチアクシスキャリブレータ14g. スケールユニットミツトヨリニヤスケール ABS AT1100シリーズ15尾崎製作所デジタルゲージ PDN-21 PDN-51 PDN-CC PDN-PP15レニショーRESOLUTE 光学式アブソリュート位置決めエンコーダ15h. 測長ユニットコア―テック磁気リニアエンコーダ・EMIX23(エルゴ社製)16コア―テック光学式リニアエンコーダ LK24(プレシジカ社製)16コア―テック光学式ロータリーエンコーダ A75M(プレシジカ社製)16コア―テック電磁誘導式アブスリュートリニアエンコーダ(ニューオール社製)16

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